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SuperViewW高分辨率3d白光干涉儀能夠以優(yōu)于納米級的分辨率，測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)。可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SuperViewW1白光干涉技術3D測量輪廓儀是以白光干涉技術為原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能.

中圖儀器SuperViewW白光干涉儀摩擦磨損形貌檢測儀非接觸式掃描測量各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SuperViewW1白光干涉3D顯微檢測儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器SuperViewW白光干涉儀測量粗糙度設備以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器SuperViewW1白光干涉光學3D表面形貌輪廓儀利用光學干涉原理研制開發(fā)，能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能；提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能.